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工業(ye)(ye)CT在1917年(nian)由J.Random提(ti)出，但直到1970年(nian)代中(zhong)后期才開始(shi)大量應(ying)用于無損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)。近(jin)年(nian)來(lai)，隨著(zhu)計(ji)算機科學的(de)進步及探測(ce)(ce)器技術的(de)發展，工業(ye)(ye)CT的(de)性能逐年(nian)提(ti)高。工業(ye)(ye)CT無損(sun)檢(jian)測(ce)(ce)由于其適應(ying)材料廣、可檢(jian)測(ce)(ce)復雜零件、可確定缺陷位置和大小、檢(jian)...
微納CT就(jiu)是(shi)工業(ye)CT的(de)一種，是(shi)測量更(geng)精密的(de)一種設備，三個主要組(zu)件是(shi)X射線源，旋轉(zhuan)控制臺和(he)檢(jian)測器(qi)。微納CT可(ke)以(yi)以(yi)二維(wei)斷層(ceng)圖(tu)像或三維(wei)圖(tu)像的(de)形式清晰(xi)，準確，直接地顯示被(bei)(bei)檢(jian)對(dui)象(xiang)的(de)內部結構和(he)組(zu)成，而(er)不會損(sun)壞被(bei)(bei)檢(jian)對(dui)象(xiang)。材料和(he)缺(que)陷被(bei)(bei)稱為較好(hao)的(de)無損(sun)檢(jian)測技術...
微(wei)焦點CT系(xi)統(tong)能(neng)在對(dui)檢測(ce)物(wu)體(ti)無損傷(shang)條件下(xia)，以二(er)維(wei)(wei)斷(duan)層圖(tu)(tu)像或三維(wei)(wei)立體(ti)圖(tu)(tu)像的(de)形式，清晰(xi)、準確、直(zhi)觀地展示被檢測(ce)物(wu)體(ti)內部的(de)結構(gou)、組成、材質及缺(que)損狀況。微(wei)焦點CT技術涉(she)及了核物(wu)理(li)學、微(wei)電(dian)子學、光電(dian)子技術、儀器儀表(biao)、精密(mi)機(ji)械與控(kong)制、計算機(ji)圖(tu)(tu)像處理(li)與模...
即將過去(qu)的2020年(nian)，雖然受到疫(yi)情的影(ying)響，協(xie)會部分規劃好(hao)的工作進行了調整，總體來(lai)說是穩(wen)健發展(zhan)的一(yi)年(nian)。協(xie)會主辦的“2020蘇州無損檢測(ce)太湖(hu)論壇（研討會）”壓縮規模后在魔都(dou)——上海成功舉辦，得到來(lai)自各(ge)地(di)近百位無損檢測(ce)工作者的熱烈響應；協(xie)會還舉辦...
